Internationale Fachmesse für Qualitätssicherung: Confovis zeigt Branchenlösungen für Automotive/Aerospace und Halbleiterindustrie auf der Control

Jena, 16. April 2014 - Der Spezialist für 3D-Oberflächenanalyse Confovis (www.confovis.de) präsentiert seine Messsystemen für die schnelle Qualitätsinspektion auf der internationalen Fachmesse für Qualitätssicherung Control (www.control-messe.de) in Stuttgart. Neben der neuen Portal-Lösung ConfoGate CGM-100 zur normgerechten Rauheitsmessung und dem Drallportal ConfoGate CGDR-100 für die Automobil- und Zulieferungsindustrie wird auch das 3D-Messsystem CL300 zur automatisierten Wafer-Analyse vorgestellt. Die Control findet vom 6. bis 9. Mai 2014 in Stuttgart statt. Confovis stellt an Stand 7322 in Halle 7 aus.

ID: 1048121
vorherige Meldung nächste Meldung

(blechnews) - Erweitertes Bildfeld
Das neue Portalsystem ConfoGate CGM-100 ist für die schnelle optische Qualitätsinspektion im Bereich Automotive, Aerospace sowie Werkzeug- und Maschinenbau ausgelegt. Dem Anwender steht damit erstmals ein Messportal mit einer Bildfeldgröße von 2,5 x 2,0 mm zur Verfügung, welches mit zwei Bildstapeln eine präzise Mikrostrukturanalyse von bis zu 4,0 x 2,0 mm in 20 Sekunden erstellt. Marktübliche Systeme benötigten für die von der DIN 4287 und 4288 geforderte Strecke von zum Beispiel 4 mm ca. 15 Einzelbilder - bei einer Bildfeldgröße von nur 0,45 x 0,33 mm. Mit dem CGM-100 entfällt das aufwendige Aufnehmen und Zusammenfügen von Einzelaufnahmen (Stitchen). Messergebnisse liegen in deutlich kürzerer Zeit vor. Die Fehleranalyse erfolgt schneller und der Ausschuss wird reduziert.

Rundum Qualität
3D-Oberflächenanalyse rotationssymmetrischer Bauteile wie etwa Antriebs-, Kurbel- oder Nockenwellen lassen sich mit dem Drallportal ConfoGate CGDR-100 berührungslos und normgerecht überprüfen. Alle Drall-Kenngrößen wie Gängigkeit, Dralltiefe und -winkel sowie Periodenlänge und Förderquerschnitt können nach Daimler-Norm MBN 31007-07 ermittelt und mit dem entsprechenden Software-Modul ausgewertet werden. Statt Punkt-für-Punkt zu messen, scannt das confovis Drallportal eine komplette Fläche. Dadurch wird die Messzeit um bis zu 80 Prozent reduziert. Mit dem ConfoGate CGDR-100 steht der Automobil- und Zulieferindustrie ein leistungsstarkes Messsystem zur Qualitätssicherung zur Verfügung.

Automatisierte Wafer-Analyse
Für die Halbleiterindustrie bietet confovis das 3D-Messsystem CL300 zur automatischen Inspektion von Wafern mit einer Größe von bis zu 300 mm. Es eignet sich zur Charakterisierung von Oberflächentexturen und zur Bestimmung von "Critical Dimensions". Als Konfokal-Mikroskop mit 5- bis 100-facher Vergrößerung und einer Höhenauflösung ab 3 nm bietet das confovis CL300 sowohl klassische Mikroskopie-Funktionen als auch erweiterte 3D-Oberflächenanalysen. Dank automatischer Messalgorithmen sind die Reproduzierbarkeit und die Unabhängigkeit der Messergebnisse vom Benutzer gegeben. Statt einer Stichproben-Prüfung können nun alle Chips auf dem Wafer in kürzester Zeit vermessen werden. Das CL300 wird bereits beim Fraunhofer IZM erfolgreich eingesetzt.



In Halle 7 an Stand 7322 der Control erhalten Messebesucher Einblicke in die Anwendungsfelder der neuesten confovis Produkte. Gesprächstermine können bereits vorab per Mail an baechstaedt(at)confovis.com verabredet werden.

Bildmaterial finden Sie unter: http://www.confovis.de/de/unternehmen/aktuelles/presse.html



Keywords (optional):

waferinspektion, 3d-messsystem, oberflaechenanalyse, qualitaetssicherung,



Unternehmensinformation / Kurzprofil:

Über die confovis GmbH:
Die confovis GmbH ist ein High-Tech-Unternehmen, das seit 2009 auf dem Gebiet der optischen Oberflächeninspektion und Messtechnik tätig ist. Es entwickelt, fertigt und vertreibt neben konfokalen Aufrüst-Kits für konventionelle Mikroskope ebenso komplette Messsysteme zur 3D-Oberflächenanalyse, sowie OEM Komponenten für industrielle Anwendungen. Die 3D-Messsysteme von confovis sind ideal für Messaufgaben aus der Automobil-, Maschinenbau, Metallurgie-, Halbleiter-, und Optischen Industrie, um Mikro-Geometrien, Rauheiten, Mikro-Strukturen, transparente Schichten sowie andere Parameter zu messen und zu analysieren.
www.confovis.com

Dies ist eine Meldung von

Leseranfragen:



Kontakt / Agentur:

confovis GmbH
Hans-Knöll-Str.6
07745 Jena
Germany
Tel.: +49 3641 27 410-12
Kontakt: Frau Manja Bächstädt
E-Mail: baechstaedt(at)confovis.com

PR-Agentur
Tower PR
Leutragraben 1
07743 Jena
Tel.: +49 3641 8761181
E-Mail: confovis(at)tower-pr.com
http://prberatung.tower-pr.com



bereitgestellt von: towerpr
Meldung drucken  Meldung an einen Freund senden  

Datum: 16.04.2014 - 14:03
Sprache: Deutsch
News-ID 1048121
Anzahl Zeichen: 0
Kontakt-Informationen:
Firma: Confovis
Ansprechpartner: Frau Manja Bächstädt Feedback an den Herausgeber senden
Stadt: Jena
Telefon: +49 3641 27 410-12

Anmerkungen:



Diese Meldung wurde bisher 0 mal aufgerufen.

Verlinkung-Tipps:



Direkter Link zu dieser Meldung:






Über einen Link auf Ihrer News-, Presse- oder Partner-Seite würden wir uns sehr freuen.

Kommentare zur Meldung






XML Fehler in Zeile 1: SYSTEM or PUBLIC, the URI is missing
Blogverzeichnis - Blog Verzeichnis bloggerei.de